植物冠層分析系統(tǒng)可以無損測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射（PAR）、植被表面參數(shù)、分析植被指數(shù)RVI、NDVI、作物葉層含氮量、氮素積累等。為什么說植物冠層分析系統(tǒng)為植物長勢監(jiān)測提供科學解決方案，那就先來了解下植物冠層與植物長勢有什么關(guān)系，植物冠層與植物生長的關(guān)系主要體現(xiàn)在以下幾個方面:
1. 光能:植物對光能的利用，如光的透射和反射
2. 固定二氧化碳在植物葉片光合作用時。
3.植物的生長取決于蒸騰作用的大小。

因此，在一定程度上，借助植物冠層分析儀獲取植物冠層的相關(guān)指標，可以準確地幫助判斷和評價植物生長，動態(tài)監(jiān)測植物生長，為植物生長監(jiān)測提供科學的解決方案。

植物冠層反映了植物的生長狀況和植物營養(yǎng)缺乏的程度。比如施氮量的變化會引起作物葉片的生理和形態(tài)結(jié)構(gòu)發(fā)生相應的變化，從而導致作物光譜反射特征的變化。這是通過光譜手段獲取作物生化參數(shù)信息的理論基礎，從而使大面積監(jiān)測作物營養(yǎng)狀況成為可能，也是精細化農(nóng)業(yè)變量施肥不可或缺的基礎技術(shù)。因此，植物冠層的測量也是一個非常必要的生產(chǎn)環(huán)節(jié)。植物冠層分析系統(tǒng)主要用于大田作物長勢監(jiān)測、保護地作物實時營養(yǎng)診斷、高光效育種材料篩選、農(nóng)產(chǎn)品和食品快速檢測等領(lǐng)域。